Убунтовод (Ubuntu) › Интересные статьи › Метод периферийного сканирования в тестировании электронных устройств

Метод периферийного сканирования в тестировании электронных устройств

Возможна ли отбраковка устройств и контроль качества монтажа изделия до начала функционального тестирования при производстве? Ведь подобный подход позволит сократить производственные расходы и повысить качество выпускаемых устройств.

Действительно, методика периферийного тестирования JTAG уже стала промышленным стандартом и доказала свою эффективность. Одним из главных преимуществ данной технологии является возможность анализировать изделия в корпусах COB, BGA и QFP с ограниченным доступом к печатным платам. Сегодня стандарт IE 1149 поддерживает все большее количество схем от самых разных производителей, что делает метод «джей-таг» более доступным.

Особенности методики JTAG-тестирования

При производстве микросхем их производители сопровождают готовую продукцию файлами BSDL. В них содержатся данные об архитектуре регистров на стандартном языке управления, современные программные средства считывают информацию в автоматическом режиме. Стандарт позволяет через один порт получать данные о нескольких микросхемах устройства, что значительно упрощает процесс тестирования. Чтобы периферийное сканирование было качественным, необходимо предварительно разработать схему устройства на стадии его проектирования. Обязательно она должна учитывать необходимость установки компонентов стандарта IEEE 1149. Их грамотное соединение, вывод портов JTAG на внешние разъемы и контакты обеспечить высокий уровень сканирования.

На что способно JTAG-тестирование? С его помощью можно выявить замыкания, нерабочие микросхемы, места обрывов, непропаенные места выходов микросхем. Обнаружение данных дефектов до программирования платы позволит избежать проблем с запуском периферийного оборудования и памяти устройства. Это очень важно, ведь после программирования будет сложно определить, в чем причина неисправности – в некачественном монтаже или в неверных настройках используемого программного обеспечения.

Недостатки периферийного тестирования

Универсального метода тестирования не существует, не является исключением из этого правила и JTAG. Среди его недостатков небольшая производительность, особенно, если сравнивать методику с функциональным тестированием. Не менее серьезный недостаток и в том, что предназначен метод только для цифровых изделий, он не приспособлен для анализа аналоговых узлов устройства. С помощью данной технологии проверяется только отсутствие обрывов связей, метод не предназначен для проверки из качества. На работы высокоскоростных схем негативное влияние оказывает паразитарная емкость и импеданс. Но, несмотря на это JTAG способствует оптимизации изделия для полноценного тестирования при производстве и сокращению время сканирования устройства.

Источник: компания Promwad